S. Wieghold, J. Li, P. Simon, M. Krause, Y. Avlasevich et al., Nature Commun, vol.7, p.10700, 2016.

D. A. Bonnell, D. Basov, M. Bode, U. Diebold, S. V. Kalinin et al., Rev. Modern Phys, vol.84, p.1343, 2012.

H. Imada, K. Miwa, M. Imai-imada, S. Kawahara, K. Kimura et al., Nature, vol.538, p.364, 2016.

Z. C. Dong, X. L. Zhang, H. Y. Gao, Y. Luo, C. Zhang et al., Nat. Photonics, vol.4, p.50, 2010.

E. Escasaín, E. López-elvira, A. M. Baró, J. Colchero, and E. Palacios-lidón, J. Phys. Chem. C, vol.116, p.17919, 2012.

P. A. Cox, M. S. Glaz, J. S. Harrison, S. R. Peurifoy, D. C. Co?ey et al., J. Phys. Chem. Lett, vol.6, p.2852, 2015.

F. Fuchs, F. Ca?y, R. Demadrille, T. Mélin, and B. Grévin, ACS Nano, vol.10, p.739, 2016.

A. Liscio, V. Palermo, and P. Samorì, Acc. Chem. Res, vol.43, p.541, 2010.

S. Grafström, J. Appl Phys, vol.91, p.1717, 2002.

O. Probst, S. Dey, J. Fritz, S. Grafström, T. Hagen et al., Laser-Assisted Scanning Tunneling Microscopy Studies of Thin Ordered Molecular Layers, pp.269-274, 1995.

D. Smith and R. Owens, Appl. Phys. Lett, vol.76, p.3825, 2000.

I. V. Pechenezhskiy, X. Hong, G. D. Nguyen, J. E. Dahl, R. M. Carlson et al., Phys. Rev. Lett, vol.111, p.126101, 2013.

S. Grafström, P. Schuller, J. Kowalski, and R. Neumann, Appl. Phys. A, vol.66, p.1237, 1998.

D. Fichou, F. Charra, and A. O. Gusev, Adv. Mater, vol.13, p.555, 2001.

S. Wu, N. Ogawa, and W. Ho, Science, vol.312, p.1362, 2006.

J. B. Ballard, E. S. Carmichael, D. Shi, J. W. Lyding, and M. Gruebele, Nano lett, vol.6, p.45, 2006.

L. Nienhaus, J. J. Goings, D. Nguyen, S. Wieghold, J. W. Lyding et al., J. Am. Chem. Soc, vol.137, p.14743, 2015.

S. Park, J. Jeong, G. Hyun, M. Kim, H. Lee et al., Sci. Rep, vol.6, p.35262, 2016.

R. Otero, D. Écija, G. Fernández, J. M. Gallego, L. Sánchez et al., , vol.7, p.2602, 2007.

J. M. Szarko, B. S. Rolczynski, S. J. Lou, T. Xu, J. Strzalka et al., Adv. Funct. Mater, vol.24, p.10, 2014.

C. Musumeci, R. Borgani, J. Bergqvist, O. Inganäs, D. Haviland et al., , vol.7, p.46313, 2017.

A. Muraoka, M. Fujii, K. Mishima, H. Matsunaga, H. Benten et al., Phys. Chem. Chem. Phys, vol.20, p.12193, 2018.

T. Ferron, M. Waldrip, M. Pope, and B. A. Collins, J. Mater. Chem. A, vol.7, p.4536, 2019.

I. Caballero-quintana, J. Maldonado, M. Meneses-nava, O. Barbosa-garcía, J. Valenzuela-benavides et al., Adv. Electron. Mater, vol.5, p.1800499, 2019.

S. M. Ryno and C. Risko, Phys. Chem. Chem. Phys, vol.21, p.7802, 2019.

E. Mena-osteritz, A. Meyer, B. M. Langeveld-voss, R. A. Janssen, E. W. Meijer et al., Angew. Chem. Int. Ed, vol.15, p.2679, 2000.

P. Renaud, B. Mickael, R. Patrice, B. Robert, and G. Benjamin, organic Field-E?ect Transistors: Towards Molecular Scale. Proceedings of Symposium E. E-MRS Spring Meeting, vol.146, 2004.

W. Chen, T. Xu, F. He, W. Wang, C. Wang et al., Nano Lett, vol.11, p.21823620, 2011.

M. Williams, N. R. Tummala, S. G. Aziz, C. Risko, and J. Brédas, J. Phys. Chem. Lett, vol.19, p.3427, 2014.

L. Sánchez, R. Otero, J. M. Gallego, R. Miranda, and N. Martín, Chem. Rev, vol.109, p.19253947, 2009.

D. Écija, R. Otero, L. Sánchez, J. Gallego, Y. Wang et al., Angew. Chem. Int. Ed, vol.46, p.7874, 2007.

W. Li, Y. Du, H. Zhang, G. Chen, C. Sheng et al., Surf. Sci, vol.654, issue.8, 2016.

L. Tskipuri, Q. Shao, and J. Reutt-robey, J. Phys. Chem. C, vol.41, p.21874, 2012.

H. Cao, M. Van-den-eede, G. Koeckelberghs, K. S. Mali, and S. D. Feyter, Chem. Commun, vol.53, p.153, 2017.

E. Mena-osteritz and P. Bäuerle, Adv. Mater, vol.18, p.447, 2006.

P. Avouris and B. N. Persson, J. Phys. Chem, vol.88, p.837, 1984.

N. M. Amer, A. Skumanich, and D. Ripple, Appl. Phys. Lett, vol.49, p.137, 1986.

S. Grafström, P. Schuller, J. Kowalski, and R. Neumann, J. Appl. Phys, vol.83, p.3453, 1998.

S. M. Landi, A. V. Bragas, J. A. Coy, and O. E. Martínez, Ultramicroscopy, vol.77, p.207, 1999.

A. Bragas, S. Landi, J. Coy, and O. Martìnez, J. Appl. Phys, vol.82, p.4153, 1997.

J. Terso? and D. R. Hamann, Phys. Rev. B, vol.31, p.805, 1985.

C. J. Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, 2007.

O. Probst, S. Grafström, J. Fritz, S. Dey, J. Kowalski et al., Appl. Phys. A, vol.59, p.109, 1994.

P. Han, A. R. Kurland, A. N. Giordano, S. U. Nanayakkara, M. M. Blake et al., ACS Nano, vol.3, p.3115, 2009.

J. C. Thomas, D. P. Goronzy, K. Dragomiretskiy, D. Zosso, J. Gilles et al., ACS Nano, vol.10, p.5446, 2016.

B. Grévin, O. Bardagot, and R. Demadrille, Beilstein J. Nanotechnol, vol.11, p.323, 2020.

R. Sharma, H. Lee, V. Gupta, H. Kim, M. Kumar et al., Org. Electron, vol.34, p.111, 2016.

S. Braun, W. R. Salaneck, and M. Fahlman, Adv. Mater, vol.21, p.1450, 2009.

S. M. Landi and O. E. Martínez, J. Appl. Phys, vol.88, p.4840, 2000.

S. Grafström, J. Kowalski, R. Neumann, O. Probst, and M. Wörtge, J. Vac. Sci. Technol. B, vol.9, p.568, 1991.

I. Horcas, R. Fernández, J. M. Gómez-rodríguez, J. Colchero, J. Gómez-herrero et al., Rev. Sci. Instrum, vol.78, p.13705, 2007.